КФУ. Карточка публикации. Carbon Coating Characterization via Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy

RUS

CARBON COATING CHARACTERIZATION VIA ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND RAMAN SPECTROSCOPY

Форма представления

Статьи в зарубежных журналах и сборниках

Год публикации

2013

Авторы, сотрудники КФУ

Фишман Александр Израилович, автор

Другие авторы

A.A.Stolov; J.Li

Библиографическое описание на языке оригинала

A.A.Stolov, S.S.Kharintsev, A.I.Fishman, J.Li. Workshop on Specialty Optical Fibers and their Applications,Sigtuna, Sweden, August 28-30, 2013. F2.1

Аннотация

Workshop on Specialty Optical Fibers and their Applications

Ключевые слова

Carbon-coated, optical fibers, atomic force microscopy, Raman spectroscopy

Название журнала

Workshop on Specialty Optical Fibers and their Applications

URL

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Фишман Александр Израилович	ru_RU
dc.contributor.author	Харинцев Сергей Сергеевич	ru_RU
dc.date.accessioned	2013-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.available	2013-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.issued	2013	ru_RU
dc.identifier.citation	A.A.Stolov, S.S.Kharintsev, A.I.Fishman, J.Li. Workshop on Specialty Optical Fibers and their Applications,Sigtuna, Sweden, August 28-30, 2013. F2.1	ru_RU
dc.identifier.uri	https://repository.kpfu.ru/?p_id=73388	ru_RU
dc.description.abstract	Workshop on Specialty Optical Fibers and their Applications	ru_RU
dc.description.abstract	Workshop on Specialty Optical Fibers and their Applications	ru_RU
dc.description.abstract	Carbon-coated were deposited on optical fibers at different conditions and characterized using atomic force microscopy and Raman spectroscopy. The coating morphology was found to be independent of the coating thickness within 25 ? 71 nm range.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.subject	Carbon-coated	ru_RU
dc.subject	optical fibers	ru_RU
dc.subject	atomic force microscopy	ru_RU
dc.subject	Raman spectroscopy	ru_RU
dc.title	Carbon Coating Characterization via Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy	ru_RU
dc.type	Статьи в зарубежных журналах и сборниках	ru_RU