Форма представления | Российские монографии |
Год публикации | 2011 |
Язык | русский |
|
Мосин Сергей Геннадьевич, автор
|
|
Ланцов Владимир Николаевич, автор
|
Библиографическое описание на языке оригинала |
Ланцов, В. Н. Современные подходы к проектированию и тестированию интегральных микросхем [Текст] : монография / В. Н. Ланцов, С. Г. Мосин. – Владимир : Изд-во Владим. гос. ун-та, 2010. – 285 с. – ISBN 978-5-9984-0120-6. |
Ключевые слова |
САПР, интегральные схемы, тестирование, диагностика |
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=125500 |
Полная запись метаданных |
Поле DC |
Значение |
Язык |
dc.contributor.author |
Мосин Сергей Геннадьевич |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Ланцов Владимир Николаевич |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2011-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2011-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2011 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
Ланцов, В. Н. Современные подходы к проектированию и тестированию интегральных микросхем [Текст] : монография / В. Н. Ланцов, С. Г. Мосин. – Владимир : Изд-во Владим. гос. ун-та, 2010. – 285 с. – ISBN 978-5-9984-0120-6. |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=125500 |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
САПР |
ru_RU |
dc.subject |
интегральные схемы |
ru_RU |
dc.subject |
тестирование |
ru_RU |
dc.subject |
диагностика |
ru_RU |
dc.title |
Современные подходы к проектированию и тестированию интегральных микросхем |
ru_RU |
dc.type |
Российские монографии |
ru_RU |
|