КФУ. Карточка публикации. A Built-in Self-Test Circuitry Based on Reconfiguration for Analog and Mixed-Signal IC

КАЗАНСКИЙ
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

RUS

- EN
- 中文
- ES

A BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITRY BASED ON RECONFIGURATION FOR ANALOG AND MIXED-SIGNAL IC

Форма представления

Статьи в зарубежных журналах и сборниках

Год публикации

2011

Язык

английский

Авторы, сотрудники КФУ

Мосин Сергей Геннадьевич, автор

Библиографическое описание на языке оригинала

Mosin, S. A Built-in Self-Test Circuitry Based on Reconfiguration for Analog and Mixed-Signal IC, Information Technology and Control. – 2011. Vol.40. No. 3. – P. 260 – 264. – ISSN 1392 – 124X

Ключевые слова

BIST, DFT, mixed-signal integrated circuits

Название журнала

Information Technology and Control

URL

http://dx.doi.org/10.5755/j01.itc.40.3.635

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку

https://repository.kpfu.ru/?p_id=125501

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Мосин Сергей Геннадьевич	ru_RU
dc.date.accessioned	2011-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.available	2011-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.issued	2011	ru_RU
dc.identifier.citation	Mosin, S. A Built-in Self-Test Circuitry Based on Reconfiguration for Analog and Mixed-Signal IC, Information Technology and Control. – 2011. Vol.40. No. 3. – P. 260 – 264. – ISSN 1392 – 124X	ru_RU
dc.identifier.uri	https://repository.kpfu.ru/?p_id=125501	ru_RU
dc.description.abstract	Information Technology and Control	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.subject	BIST	ru_RU
dc.subject	DFT	ru_RU
dc.subject	mixed-signal integrated circuits	ru_RU
dc.title	A Built-in Self-Test Circuitry Based on Reconfiguration for Analog and Mixed-Signal IC	ru_RU
dc.type	Статьи в зарубежных журналах и сборниках	ru_RU