КФУ. Карточка публикации. Design-for-testability automation of mixed-signal integrated circuits

КАЗАНСКИЙ
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

RUS

- EN
- 中文
- ES

DESIGN-FOR-TESTABILITY AUTOMATION OF MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS

Форма представления

Тезисы и материалы конференций в зарубежных журналах и сборниках

Год публикации

2013

Язык

английский

Авторы, сотрудники КФУ

Мосин Сергей Геннадьевич, автор

Библиографическое описание на языке оригинала

Mosin S. Design-for-testability automation of mixed-signal integrated circuits / S. Mosin // Proc. IEEE 26th International SOC Conference (SOCC) - Erlangen. Germany. - 2013. - P. 244 - 249.

Аннотация

Proc. IEEE 26th International SOC Conference (SOCC)

Ключевые слова

computer-aided design-for-testability, integrated circuit design, mixed-signal integrated circuits, DFT-automation

Название журнала

Proc. IEEE 26th International SOC Conference (SOCC)

URL

http://dx.doi.org/10.1109/SOCC.2013.6749695

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку

https://repository.kpfu.ru/?p_id=126030

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Мосин Сергей Геннадьевич	ru_RU
dc.date.accessioned	2013-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.available	2013-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.issued	2013	ru_RU
dc.identifier.citation	Mosin S. Design-for-testability automation of mixed-signal integrated circuits / S. Mosin // Proc. IEEE 26th International SOC Conference (SOCC) - Erlangen. Germany. - 2013. - P. 244 - 249.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://repository.kpfu.ru/?p_id=126030	ru_RU
dc.description.abstract	Proc. IEEE 26th International SOC Conference (SOCC)	ru_RU
dc.description.abstract	The methodology to computer-aided design-for-testability (DFT) of mixed-signal IC is proposed. Functional model of DFT-automation is presented as IDEF0-diagram based on the system analysis. The purpose and principal realization of the key DFT processes in the model are considered. The decision criterions of effective DFT-solution for particular mixed-signal circuit design are proposed. The features of testing circuitries library are descried. Experimental results of the methodology application for analog-digital ADPCM codec are presented.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.subject	computer-aided design-for-testability	ru_RU
dc.subject	integrated circuit design	ru_RU
dc.subject	mixed-signal integrated circuits	ru_RU
dc.subject	DFT-automation	ru_RU
dc.title	Design-for-testability automation of mixed-signal integrated circuits	ru_RU
dc.type	Тезисы и материалы конференций в зарубежных журналах и сборниках	ru_RU