Форма представления | Статьи в зарубежных журналах и сборниках |
Год публикации | 2015 |
Язык | английский |
|
Орлинский Сергей Борисович, автор
Явкин Борис Владимирович, автор
|
|
Солтамов, Толмачев, Бабунц, Бадалян, Давыдов, Мохов, Проскуряков, Баранов Виктор, Даниил, Роман, Андрей, Владимир, Евгений, Иван, Павел , автор
|
Библиографическое описание на языке оригинала |
1. Soltamov V. A., Yavkin B. V., Tolmachev D. O., Babunts R. A., Badalyan A. G., Davydov V. Y., Mokhov E. N., Proskuryakov I. I., Orlinskii S. B., Baranov P. G. Optically Addressable Silicon Vacancy-Related Spin Centers in Rhombic Silicon Carbide with High Breakdown Characteristics and ENDOR Evidence of Their Structure // Physical Review Letters. ‒ 2015. ‒ T. 115, № 24. ‒ C. 247602. |
Ключевые слова |
Color centers and other defects, Optically detected magnetic resonance (ODMR), Electron-nuclear double resonance (ENDOR), electron double resonance (ELDOR), Indirect evidence of dislocations and other defects (resistivity, slip, creep, strains, internal friction, EPR, NMR, etc.) |
Название журнала |
PHYS REV LETT
|
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=135662 |
Полная запись метаданных |
Поле DC |
Значение |
Язык |
dc.contributor.author |
Орлинский Сергей Борисович |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Явкин Борис Владимирович |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Солтамов, Толмачев, Бабунц, Бадалян, Давыдов, Мохов, Проскуряков, Баранов Виктор, Даниил, Роман, Андрей, Владимир, Евгений, Иван, Павел |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2015-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2015-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2015 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
1. Soltamov V. A., Yavkin B. V., Tolmachev D. O., Babunts R. A., Badalyan A. G., Davydov V. Y., Mokhov E. N., Proskuryakov I. I., Orlinskii S. B., Baranov P. G. Optically Addressable Silicon Vacancy-Related Spin Centers in Rhombic Silicon Carbide with High Breakdown Characteristics and ENDOR Evidence of Their Structure // Physical Review Letters. ‒ 2015. ‒ T. 115, № 24. ‒ C. 247602. |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=135662 |
ru_RU |
dc.description.abstract |
PHYS REV LETT |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
Color centers and other defects |
ru_RU |
dc.subject |
Optically detected magnetic resonance (ODMR) |
ru_RU |
dc.subject |
Electron-nuclear double resonance (ENDOR) |
ru_RU |
dc.subject |
electron double resonance (ELDOR) |
ru_RU |
dc.subject |
Indirect evidence of dislocations and other defects (resistivity |
ru_RU |
dc.subject |
slip |
ru_RU |
dc.subject |
creep |
ru_RU |
dc.subject |
strains |
ru_RU |
dc.subject |
internal friction |
ru_RU |
dc.subject |
EPR |
ru_RU |
dc.subject |
NMR |
ru_RU |
dc.subject |
etc.) |
ru_RU |
dc.title |
Optically Addressable Silicon Vacancy-Related Spin Centers in Rhombic Silicon Carbide with High Breakdown Characteristics and ENDOR Evidence of Their Structure |
ru_RU |
dc.type |
Статьи в зарубежных журналах и сборниках |
ru_RU |
|