КФУ. Карточка публикации. Generating the test program for mixed-signal integrated circuits using the automata network

КАЗАНСКИЙ
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

RUS

- EN
- 中文
- ES

GENERATING THE TEST PROGRAM FOR MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS USING THE AUTOMATA NETWORK

Форма представления

Тезисы и материалы конференций в российских журналах и сборниках

Год публикации

2016

Язык

английский

Авторы, сотрудники КФУ

Мосин Сергей Геннадьевич, автор

Библиографическое описание на языке оригинала

Мосин, С. Г. Generating the test program for mixed-signal integrated circuits using the automata network // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2016. Часть II. С. 36-37.

Аннотация

Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. Часть II

Ключевые слова

design automation, design-for-testability, test program, mixed-signal integrated circuit, automata network

Название журнала

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку

https://repository.kpfu.ru/?p_id=140286

Файлы ресурса

Название файла	Размер (Мб)	Формат
Mosin_Paper_eng.pdf	0,08	pdf	посмотреть / скачать

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Мосин Сергей Геннадьевич	ru_RU
dc.date.accessioned	2016-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.available	2016-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.issued	2016	ru_RU
dc.identifier.citation	Мосин, С. Г. Generating the test program for mixed-signal integrated circuits using the automata network // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2016. Часть II. С. 36-37.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://repository.kpfu.ru/?p_id=140286	ru_RU
dc.description.abstract	Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. Часть II	ru_RU
dc.description.abstract	An efficient generation of test programs ensuring comprehensive testing and diagnosis of MSIC, effective utilization of automated test equipment, reduction of time and money costs on test preparation and execution, etc. is one of the challenges in the area of mixed-signal testing. The method of test program generation in the form of automata network providing the test execution with various resolving ability for MSIC using the automated test equipment is proposed. Two basic models for description the test process of MSIC in respect to hierarchical testing are proposed. Experimental results have confirmed the efficiency of proposed method for generating the test program for hierarchical testing MSIC on automated test equipment.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.subject	design automation	ru_RU
dc.subject	design-for-testability	ru_RU
dc.subject	test program	ru_RU
dc.subject	mixed-signal integrated circuit	ru_RU
dc.subject	automata network	ru_RU
dc.title	Generating the test program for mixed-signal integrated circuits using the automata network	ru_RU
dc.type	Тезисы и материалы конференций в российских журналах и сборниках	ru_RU