Форма представления | Тезисы и материалы конференций в российских журналах и сборниках |
Год публикации | 2017 |
Язык | русский |
|
Воробьев Вячеслав Валерьевич, автор
Евтюгин Владимир Геннадьевич, автор
Морозова Анна Сергеевна, автор
Осин Юрий Николаевич, автор
Рогов Алексей Михайлович, автор
Степанов Андрей Львович, автор
|
|
Нуждин В. И., автор
|
Библиографическое описание на языке оригинала |
Морозова А.С. Микроскопия периодически - структурированных слоев сформированных ионной имплантацией / А.С. Морозова, А.М. Рогов, В.В. Воробьев, В.Г. Евтюгин, Ю.Н. Осин, В.И. Нуждин, В.Ф. Валеев, А.Л. Степанов// Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference. - 2017. - с. 112 - 113 |
Аннотация |
Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference |
Ключевые слова |
Атомно-силовая микроскопия, сканирующая электронная микроскопия, пористые полупроводниковые материалы, ионная имплатнация |
Название журнала |
Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference
|
URL |
https://nanocenter.urfu.ru/sites/default/files/%21SPM-2017%20Abstract%20book.pdf |
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=162738 |
Полная запись метаданных |
Поле DC |
Значение |
Язык |
dc.contributor.author |
Воробьев Вячеслав Валерьевич |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Евтюгин Владимир Геннадьевич |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Морозова Анна Сергеевна |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Осин Юрий Николаевич |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Рогов Алексей Михайлович |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Степанов Андрей Львович |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Нуждин В. И. |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2017-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2017-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2017 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
Морозова А.С. Микроскопия периодически - структурированных слоев сформированных ионной имплантацией / А.С. Морозова, А.М. Рогов, В.В. Воробьев, В.Г. Евтюгин, Ю.Н. Осин, В.И. Нуждин, В.Ф. Валеев, А.Л. Степанов// Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference. - 2017. - с. 112 - 113 |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=162738 |
ru_RU |
dc.description.abstract |
Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference |
ru_RU |
dc.description.abstract |
Описан способ получения структурированного композиционного материала на подложке из халькогенидного стекла (GeSe) при имплантации ионами Ag+. Методами СЗМ и СЭМ показано, что в результате на поверхности GeSe образуется дифракционная решетка с периодом ~ 25 мкм и высотой ступенек ~ 170-200 нм. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
Атомно-силовая микроскопия |
ru_RU |
dc.subject |
сканирующая электронная микроскопия |
ru_RU |
dc.subject |
пористые полупроводниковые материалы |
ru_RU |
dc.subject |
ионная имплатнация |
ru_RU |
dc.title |
Микроскопия периодически - структурированных слоев сформированных ионной имплантацией |
ru_RU |
dc.type |
Тезисы и материалы конференций в российских журналах и сборниках |
ru_RU |
|