КФУ. Карточка публикации. Назипов Р.А. Электронно-микроскопический анализ поверхности нанокристаллического сплава на основе железа / Р.А. Назипов, Ю.Н. Осин, Н.А. Зюзин, А.В. Митин, А.В. Пятаев // Тез. докл. XIV Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2005) Применение растровой электронной микроскопии в микроэлектронике, физике твердого тела, медицине, химии и т.п., Черноголовка, май-июнь 2005 г. Черноголовка, 2005. С. 175.

RUS

- EN
- 中文
- ES

НАЗИПОВ Р.А. ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТИ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО СПЛАВА НА ОСНОВЕ ЖЕЛЕЗА / Р.А. НАЗИПОВ, Ю.Н. ОСИН, Н.А. ЗЮЗИН, А.В. МИТИН, А.В. ПЯТАЕВ // ТЕЗ. ДОКЛ. XIV РОССИЙСКОГО СИМПОЗИУМА ПО РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И АНАЛИТИЧЕСКИМ МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛ (РЭМ-2005) ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ, ФИЗИКЕ ТВЕРДОГО ТЕЛА, МЕДИЦИНЕ, ХИМИИ И Т.П., ЧЕРНОГОЛОВКА, МАЙ-ИЮНЬ 2005 Г. ЧЕРНОГОЛОВКА, 2005. С. 175.

Форма представления

Статьи в российских журналах и сборниках

Год публикации

2005

Авторы, сотрудники КФУ

Зюзин Николай Андреевич, автор

Назипов Руслан Айратович, автор

Пятаев Андрей Васильевич, автор

Библиографическое описание на языке оригинала

Назипов Р.А. Электронно-микроскопический анализ поверхности нанокристаллического сплава на основе железа / Р.А. Назипов, Ю.Н. Осин, Н.А. Зюзин, А.В. Митин, А.В. Пятаев // Тез. докл. XIV Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2005) Применение растровой электронной микроскопии в микроэлектронике, физике твердого тела, медицине, химии и т.п., Черноголовка, май-июнь 2005 г. Черноголовка, 2005. С. 175.

Место издания

Черноголовка

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку

https://repository.kpfu.ru/?p_id=16946

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Зюзин Николай Андреевич	ru_RU
dc.contributor.author	Назипов Руслан Айратович	ru_RU
dc.contributor.author	Пятаев Андрей Васильевич	ru_RU
dc.date.accessioned	2005-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.available	2005-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.issued	2005	ru_RU
dc.identifier.citation	Назипов Р.А. Электронно-микроскопический анализ поверхности нанокристаллического сплава на основе железа / Р.А. Назипов, Ю.Н. Осин, Н.А. Зюзин, А.В. Митин, А.В. Пятаев // Тез. докл. XIV Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2005) Применение растровой электронной микроскопии в микроэлектронике, физике твердого тела, медицине, химии и т.п., Черноголовка, май-июнь 2005 г. Черноголовка, 2005. С. 175.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://repository.kpfu.ru/?p_id=16946	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.title	Назипов Р.А. Электронно-микроскопический анализ поверхности нанокристаллического сплава на основе железа / Р.А. Назипов, Ю.Н. Осин, Н.А. Зюзин, А.В. Митин, А.В. Пятаев // Тез. докл. XIV Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2005) Применение растровой электронной микроскопии в микроэлектронике, физике твердого тела, медицине, химии и т.п., Черноголовка, май-июнь 2005 г. Черноголовка, 2005. С. 175.	ru_RU
dc.type	Статьи в российских журналах и сборниках	ru_RU