Казанский (Приволжский) федеральный университет, КФУ
КАЗАНСКИЙ
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
 
AUTOMATED SIMULATION OF FAULTS IN ANALOG CIRCUITS BASED ON PARALLEL PARADIGM
Форма представленияСтатьи в зарубежных журналах и сборниках
Год публикации2017
Языканглийский
  • Мосин Сергей Геннадьевич, автор
  • Библиографическое описание на языке оригинала Mosin S., Automated simulation of faults in analog circuits based on parallel paradigm//Proceedings of 2017 IEEE East-West Design and Test Symposium, EWDTS 2017. - 2017. - Vol., Is.. - Art. № 8110133.
    Ключевые слова analog circuits, design automation, design-for-testability, fault simulation, Monte Carlo method, parallel paradigm
    Название журнала Proceedings of 2017 IEEE East-West Design and Test Symposium, EWDTS 2017
    URL https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85040530367&doi=10.1109%2fEWDTS.2017.8110133&partnerID=40&md5=6866b6c97a1e59f9f3ddff61f62c5dd5
    Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку https://repository.kpfu.ru/?p_id=173364

    Полная запись метаданных