КФУ. Карточка публикации. Characterization of low-energy Ag+-ion implanted silicon by optical reflection spectra

КАЗАНСКИЙ
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

RUS

- EN
- 中文
- ES

CHARACTERIZATION OF LOW-ENERGY AG+-ION IMPLANTED SILICON BY OPTICAL REFLECTION SPECTRA

Форма представления

Зарубежные монографии

Год публикации

2018

Язык

английский

Авторы, сотрудники КФУ

Воробьев Вячеслав Валерьевич, автор

Осин Юрий Николаевич, автор

Рогов Алексей Михайлович, автор

Степанов Андрей Львович, автор

Другие авторы

Валеев В Ф, автор

Нуждин В И, автор

Библиографическое описание на языке оригинала

A.L. Stepanov, V.V. Vorobev, V.I. Nuzhdin, V.F. Valeev, A.M. Rogov, and Y.N. Osin. Chapter 3, Characterization of low-energy Ag+-ion implanted silicon by optical reflection spectra, Ed. Alexander Pogrebnjak, Nova Science Publishers, New York, 2018 - P 77-91.

Ключевые слова

Characterization ,ion implanted, silicon, optical reflection spectra

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку

https://repository.kpfu.ru/?p_id=191772

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Воробьев Вячеслав Валерьевич	ru_RU
dc.contributor.author	Осин Юрий Николаевич	ru_RU
dc.contributor.author	Рогов Алексей Михайлович	ru_RU
dc.contributor.author	Степанов Андрей Львович	ru_RU
dc.contributor.author	Валеев В Ф	ru_RU
dc.contributor.author	Нуждин В И	ru_RU
dc.date.accessioned	2018-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.available	2018-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.issued	2018	ru_RU
dc.identifier.citation	A.L. Stepanov, V.V. Vorobev, V.I. Nuzhdin, V.F. Valeev, A.M. Rogov, and Y.N. Osin. Chapter 3, Characterization of low-energy Ag+-ion implanted silicon by optical reflection spectra, Ed. Alexander Pogrebnjak, Nova Science Publishers, New York, 2018 - P 77-91.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://repository.kpfu.ru/?p_id=191772	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.subject	Characterization	ru_RU
dc.subject	ion implanted	ru_RU
dc.subject	silicon	ru_RU
dc.subject	optical reflection spectra	ru_RU
dc.title	Characterization of low-energy Ag+-ion implanted silicon by optical reflection spectra	ru_RU
dc.type	Зарубежные монографии	ru_RU