Казанский (Приволжский) федеральный университет, КФУ
КАЗАНСКИЙ
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
 
CHARACTERIZATION OF LOW-ENERGY AG+-ION IMPLANTED SILICON BY OPTICAL REFLECTION SPECTRA
Форма представленияЗарубежные монографии
Год публикации2018
Языканглийский
  • Воробьев Вячеслав Валерьевич, автор
  • Осин Юрий Николаевич, автор
  • Рогов Алексей Михайлович, автор
  • Степанов Андрей Львович, автор
  • Валеев В Ф, автор
  • Нуждин В И, автор
  • Библиографическое описание на языке оригинала A.L. Stepanov, V.V. Vorobev, V.I. Nuzhdin, V.F. Valeev, A.M. Rogov, and Y.N. Osin. Chapter 3, Characterization of low-energy Ag+-ion implanted silicon by optical reflection spectra, Ed. Alexander Pogrebnjak, Nova Science Publishers, New York, 2018 - P 77-91.
    Ключевые слова Characterization ,ion implanted, silicon, optical reflection spectra
    Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку https://repository.kpfu.ru/?p_id=191772

    Полная запись метаданных