Форма представления | Тезисы и материалы конференций в российских журналах и сборниках |
Год публикации | 2018 |
Язык | русский |
|
Мосин Сергей Геннадьевич, автор
|
Библиографическое описание на языке оригинала |
Мосин С.Г. Метод снижения размерности обучающих наборов при построении нейроморфного справочника неисправностей для аналоговых интегральных схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2. С. 59-63. |
Аннотация |
Мосин С.Г. Метод снижения размерности обучающих наборов при построении нейроморфного справочника неисправностей для аналоговых интегральных схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2. |
Ключевые слова |
диагностика неисправностей, нейроморфный справочник неисправностей, аналоговые ИС, энтропия, машинное обучение, автоматизация проектирования |
Название журнала |
Мосин С.Г. Метод снижения размерности обучающих наборов при построении нейроморфного справочника неисправностей для аналоговых интегральных схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2.
|
URL |
https://doi.org/10.31114/2078-7707-2018-2-59-63 |
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=198719 |
Полная запись метаданных |
Поле DC |
Значение |
Язык |
dc.contributor.author |
Мосин Сергей Геннадьевич |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2018-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2018-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2018 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
Мосин С.Г. Метод снижения размерности обучающих наборов при построении нейроморфного справочника неисправностей для аналоговых интегральных схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2. С. 59-63. |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=198719 |
ru_RU |
dc.description.abstract |
Мосин С.Г. Метод снижения размерности обучающих наборов при построении нейроморфного справочника неисправностей для аналоговых интегральных схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2. |
ru_RU |
dc.description.abstract |
Методы машинного обучения активно используются для построения нейроморфных справочников неисправностей (НСН), которые обеспечивают диагностику неисправностей аналоговых и смешанных интегральных схем в ассоциативном режиме. Многие проблемы обучения нейронной сети, связанные с боль-шим объемом исходных данных, могут быть решены путем уменьшения размеров обучающих наборов и ис-пользования в них только существенных характеристик. В статье предложен метод, основанный на вычислении энтропии, для выбора существенных характеристик обучающего набора, разработан соответствующий алго-ритм. Представлены результаты экспериментальных исследований для аналогового фильтра. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
диагностика неисправностей |
ru_RU |
dc.subject |
нейроморфный справочник неисправностей |
ru_RU |
dc.subject |
аналоговые ИС |
ru_RU |
dc.subject |
энтропия |
ru_RU |
dc.subject |
машинное обучение |
ru_RU |
dc.subject |
автоматизация проектирования |
ru_RU |
dc.title |
Метод снижения размерности обучающих наборов при построении нейроморфного справочника неисправностей для аналоговых интегральных схем
|
ru_RU |
dc.type |
Тезисы и материалы конференций в российских журналах и сборниках |
ru_RU |
|