Казанский (Приволжский) федеральный университет, КФУ
КАЗАНСКИЙ
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
 
MICROSCOPIC EXAMINATION OF THE SILICON SURFACE SUBJECTED TO HIGH-DOSE SILVER IMPLANTATION
Форма представленияСтатьи в зарубежных журналах и сборниках
Год публикации2019
Языканглийский
  • Осин Юрий Николаевич, автор
  • Рогов Алексей Михайлович, автор
  • Библиографическое описание на языке оригинала Vorobev V.V, Rogov A.M, Osin Y.N, Microscopic Examination of the Silicon Surface Subjected to High-Dose Silver Implantation//Technical Physics. - 2019. - Vol.64, Is.2. - P.195-202.
    Ключевые слова Silicon Surface, Silver Implantation, Implantation
    Название журнала Technical Physics
    URL https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85065414202&doi=10.1134%2fS1063784219020270&partnerID=40&md5=e8ba2f1c0afc1d5f71295deb33b422c1
    Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку https://repository.kpfu.ru/?p_id=202361

    Полная запись метаданных