КФУ. Карточка публикации. ИЗМЕРЕНИЕ ХАРАКТЕРНОГО РАЗМЕРА СУБМИКРОННЫХ ЧАСТИЦ В ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССАХ МЕТОДОМ СВЕТОВОГО РАССЕЯНИЯ

КАЗАНСКИЙ
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

RUS

- EN
- 中文
- ES

ИЗМЕРЕНИЕ ХАРАКТЕРНОГО РАЗМЕРА СУБМИКРОННЫХ ЧАСТИЦ В ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССАХ МЕТОДОМ СВЕТОВОГО РАССЕЯНИЯ

Форма представления

Статьи в российских журналах и сборниках

Год публикации

2017

Язык

русский

Авторы, сотрудники КФУ

Куклин Владимир Александрович, автор

Библиографическое описание на языке оригинала

ДАНИЛАЕВ М.П. ИЗМЕРЕНИЕ ХАРАКТЕРНОГО РАЗМЕРА СУБМИКРОННЫХ ЧАСТИЦ В ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССАХ МЕТОДОМ СВЕТОВОГО РАССЕЯНИЯ/Н.В. ДОРОГОВ, В.А. КУКЛИН, А.В. КУРАНГЫШЕВ , Н.С. ШИЛОВ// НАНО- И МИКРОСИСТЕМНАЯ ТЕХНИКА. - 2017. - Том 19, №7, - С.417-422.

Ключевые слова

НЕФЕЛОМЕТРИЧЕСКИЙ МЕТОД, NEPHELOMETRIC METHOD, ИЗМЕРЕНИЕ ХАРАКТЕРНОГО РАЗМЕРА СУБМИКРОННЫХ ЧАСТИЦ, ПОЛИДИСПЕРСНЫЕ ЧАСТИЦЫ, POLYDISPERSE PARTICLES, МЕТОД МАЛЫХ УГЛОВ, METHOD OF SMALL ANGLES, ОТНОШЕНИЕ ИНТЕНСИВНОСТЕЙ РАССЕЯНИЯ, CORRELATION OF THE SCATTERING INTENSITIES, MEASUREMENT OF THE TYPICAL SIZES OF THE SUBMICRONIC PARTICLES

Название журнала

Нано- и микросистемная техника

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку

https://repository.kpfu.ru/?p_id=204338

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Куклин Владимир Александрович	ru_RU
dc.date.accessioned	2017-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.available	2017-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.issued	2017	ru_RU
dc.identifier.citation	ДАНИЛАЕВ М.П. ИЗМЕРЕНИЕ ХАРАКТЕРНОГО РАЗМЕРА СУБМИКРОННЫХ ЧАСТИЦ В ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССАХ МЕТОДОМ СВЕТОВОГО РАССЕЯНИЯ/Н.В. ДОРОГОВ, В.А. КУКЛИН, А.В. КУРАНГЫШЕВ , Н.С. ШИЛОВ// НАНО- И МИКРОСИСТЕМНАЯ ТЕХНИКА. - 2017. - Том 19, №7, - С.417-422.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://repository.kpfu.ru/?p_id=204338	ru_RU
dc.description.abstract	Нано- и микросистемная техника	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.subject	НЕФЕЛОМЕТРИЧЕСКИЙ МЕТОД	ru_RU
dc.subject	NEPHELOMETRIC METHOD	ru_RU
dc.subject	ИЗМЕРЕНИЕ ХАРАКТЕРНОГО РАЗМЕРА СУБМИКРОННЫХ ЧАСТИЦ	ru_RU
dc.subject	ПОЛИДИСПЕРСНЫЕ ЧАСТИЦЫ	ru_RU
dc.subject	POLYDISPERSE PARTICLES	ru_RU
dc.subject	МЕТОД МАЛЫХ УГЛОВ	ru_RU
dc.subject	METHOD OF SMALL ANGLES	ru_RU
dc.subject	ОТНОШЕНИЕ ИНТЕНСИВНОСТЕЙ РАССЕЯНИЯ	ru_RU
dc.subject	CORRELATION OF THE SCATTERING INTENSITIES	ru_RU
dc.subject	MEASUREMENT OF THE TYPICAL SIZES OF THE SUBMICRONIC PARTICLES	ru_RU
dc.title	ИЗМЕРЕНИЕ ХАРАКТЕРНОГО РАЗМЕРА СУБМИКРОННЫХ ЧАСТИЦ В ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССАХ МЕТОДОМ СВЕТОВОГО РАССЕЯНИЯ	ru_RU
dc.type	Статьи в российских журналах и сборниках	ru_RU