| Форма представления | Тезисы и материалы конференций в российских журналах и сборниках |
| Год публикации | 2020 |
| Язык | русский |
|
Мосин Сергей Геннадьевич, автор
|
| Библиографическое описание на языке оригинала |
Поиск рациональной структуры тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем [Text] / Н.В. Быханова, С.Г. Мосин // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2020. – № 1. – С. 89-94. |
| Аннотация |
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) |
| Ключевые слова |
встроенное самотестирование, тестовый генератор, LFSR, покрытие неисправностей |
| Название журнала |
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС)
|
| URL |
https://doi.org/10.31114/2078-7707-2020-1-89-94 |
| Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=242055 |
Полная запись метаданных  |
| Поле DC |
Значение |
Язык |
| dc.contributor.author |
Мосин Сергей Геннадьевич |
ru_RU |
| dc.date.accessioned |
2020-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
| dc.date.available |
2020-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
| dc.date.issued |
2020 |
ru_RU |
| dc.identifier.citation |
Поиск рациональной структуры тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем [Text] / Н.В. Быханова, С.Г. Мосин // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2020. – № 1. – С. 89-94. |
ru_RU |
| dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/?p_id=242055 |
ru_RU |
| dc.description.abstract |
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) |
ru_RU |
| dc.description.abstract |
Предложен способ поиска рациональной структуры тестового генератора, входящего в состав подсистем встроенного самотестирования цифровых схем. Решение направлено на минимизацию аппаратных и временных затрат и автоматизацию процесса формирования тестового генератора. В его основе лежит поиск баланса между двумя способами тестирования: псевдослучайным и детерминированным. Представлены результаты экспериментальных исследований. |
ru_RU |
| dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
| dc.subject |
встроенное самотестирование |
ru_RU |
| dc.subject |
тестовый генератор |
ru_RU |
| dc.subject |
LFSR |
ru_RU |
| dc.subject |
покрытие неисправностей |
ru_RU |
| dc.title |
Поиск рациональной структуры тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем |
ru_RU |
| dc.type |
Тезисы и материалы конференций в российских журналах и сборниках |
ru_RU |
|
EN 
中文 
ES 
Карта сайта
