Казанский (Приволжский) федеральный университет, КФУ
КАЗАНСКИЙ
ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
 
SIMULATION OF THE NANOSCALE INTERCONNECTS WITHIN A SPIN-RESOLVED ELECTRON TRANSPORT MODEL
Форма представленияСтатьи в зарубежных журналах и сборниках
Год публикации2020
Языканглийский
  • Тагиров Ленар Рафгатович, автор
  • Усеинов Ниазбек Хамзович, автор
  • Библиографическое описание на языке оригинала Useinov A, Lin H.-H, Useinov N, Tagirov L.R. Simulation of the nanoscale interconnects within a spin-resolved electron transport model//2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications, VLSI-TSA 2020. - 2020. - Vol., Is.. - P.72-73.
    Аннотация Работа представляет собой теоретическое моделирование электрической проводимости в межсоединениях наносейла в рамках подхода модели расширенного точечного контакта (ПК). Подход описывает диффузный, квазибаллистический, баллистический и квантовый режимы спин-разрешенной проводимости, что важно для разработки моделей гетеропереходов, включая межсоединения 2D-3D. В качестве преимущества модель обеспечивает унифицированное описание контактного сопротивления от диффузионного Максвелла через баллистический режим до чисто квантового транспортного режима без остаточных членов. Модель ПК предполагает, что контактную площадку можно заменить сложным квантовым устройством, например одиночный туннельный переход, узкая магнитная доменная стенка (DW), вакуумный зазор между наконечником и поверхностью, канал транзистора между истоком и стоком и т. д. Ландшафт потенциальной энергии устройства определяет его электрические свойства.
    Ключевые слова spintronics, spin-resolved transport, modeling
    Название журнала 2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications, VLSI-TSA 2020
    URL https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85093670337&doi=10.1109%2fVLSI-TSA48913.2020.9203729&partnerID=40&md5=b32c65691a934b2217fd940e2aec49f4
    Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на эту карточку https://repository.kpfu.ru/?p_id=242775

    Полная запись метаданных