Form of presentation | Conference proceedings in Russian journals and collections |
Year of publication | 2016 |
Язык | русский |
|
Vorobev Vyacheslav Valerevich, author
Osin Yuriy Nikolaevich, author
Stepanov Andrey Lvovich, author
|
|
Bazarov Valeriy Vyacheslavovoich, author
Batalov Rafael Ilyasovich, author
Valeev V F, author
Nuzhdin Vladimir Ivanovich, author
|
|
Vorobev Vyacheslav Valerevich, postgraduate kfu
|
Bibliographic description in the original language |
Bazarov V.V., Nuzhdin V.I., Valeev V.F., Vorobev V.V., Osin Yu.N., Batalov R.I., Stepanov A.L., Analiz poverkhnosti kremniya, implantirovannogo ionami serebra, metodom spektralnoy ellipsometrii i difrakcii otrazhennykh elektronov // Tezisy dokladov VI Vserossiyskoy konferencii i shkoly molodykh uchenykh i specialistov «Fizicheskie i fiziko-khimicheskie osnovy ionnoy implantacii» — Nizhniy Novgorod: NGU im. N.I. Lobachevskogo, 24-27 oktyabrya 2016, S. 27. |
Annotation |
Тезисы докладов VI Всероссийской конференции и школы молодых ученых и специалистов ?Физические и физико-химические основы ионной имплантации? |
Keywords |
эллипсометрия, дифракция отраженных электронов, кристаллическая структура |
The name of the journal |
Тезисы докладов VI Всероссийской конференции и школы молодых ученых и специалистов ?Физические и физико-химические основы ионной имплантации?
|
Please use this ID to quote from or refer to the card |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=143177&p_lang=2 |
Resource files | |
|
Full metadata record |
Field DC |
Value |
Language |
dc.contributor.author |
Vorobev Vyacheslav Valerevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Osin Yuriy Nikolaevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Stepanov Andrey Lvovich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Bazarov Valeriy Vyacheslavovoich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Batalov Rafael Ilyasovich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Valeev V F |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Nuzhdin Vladimir Ivanovich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Vorobev Vyacheslav Valerevich |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2016-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2016-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2016 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
Базаров В.В., Нуждин В.И., Валеев В.Ф., Воробьев В.В., Осин Ю.Н., Баталов Р.И., Степанов А.Л., Анализ поверхности кремния, имплантированного ионами серебра, методом спектральной эллипсометрии и дифракции отраженных электронов // Тезисы докладов VI Всероссийской конференции и школы молодых ученых и специалистов «Физические и физико-химические основы ионной имплантации» — Нижний Новгород: НГУ им. Н.И. Лобачевского, 24-27 октября 2016, С. 27. |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=143177&p_lang=2 |
ru_RU |
dc.description.abstract |
Тезисы докладов VI Всероссийской конференции и школы молодых ученых и специалистов ?Физические и физико-химические основы ионной имплантации? |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
эллипсометрия |
ru_RU |
dc.subject |
дифракция отраженных электронов |
ru_RU |
dc.subject |
кристаллическая структура |
ru_RU |
dc.title |
Анализ поверхности кремния, имплантированного ионами серебра, методом спектральной эллипсометрии и дифракции отраженных электронов |
ru_RU |
dc.type |
Conference proceedings in Russian journals and collections |
ru_RU |
|