Form of presentation | ECM programs, databases, integrated circuit topographies |
Year of publication | 2017 |
Язык | русский |
|
Korchagin Pavel Anatolevich, author
Chikrin Dmitriy Evgenevich, author
|
|
Bogmanov Ruslan Rafikovich, author
|
Bibliographic description in the original language |
Programmnoe obespechenie dlya vtorichnoy biometricheskoy autentifikacii na osnove analiza rukopisnogo pocherka: Svidetelstvo №2017612725 o gos. registracii programm dlya EVM/ Bagmanov R. R., Korchagin P. A., Chikrin D. E.;zayavitel i pravoobladatel FGAOU VO KFU №2017610260; zaregistrirovano v Reestre programm dlya EVM 02.06.2017 g. |
Keywords |
биометрическая аутентификации, рукописный почерк |
On-line resource for training course |
http://dspace.kpfu.ru/xmlui/bitstream/handle/net/158426/2017612725_EVM_Korchagin.pdf?sequence=1&isAllowed=y
|
Please use this ID to quote from or refer to the card |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=231417&p_lang=2 |
Resource files | |
|
Full metadata record |
Field DC |
Value |
Language |
dc.contributor.author |
Korchagin Pavel Anatolevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Chikrin Dmitriy Evgenevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Bogmanov Ruslan Rafikovich |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2017-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2017-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2017 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
Программное обеспечение для вторичной биометрической аутентификации на основе анализа рукописного почерка: Свидетельство №2017612725 о гос. регистрации программ для ЭВМ/ Багманов Р. Р., Корчагин П. А., Чикрин Д. Е.;заявитель и правообладатель ФГАОУ ВО КФУ №2017610260; зарегистрировано в Реестре программ для ЭВМ 02.06.2017 г. |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=231417&p_lang=2 |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
биометрическая аутентификации |
ru_RU |
dc.subject |
рукописный почерк |
ru_RU |
dc.title |
Программное обеспечение для вторичной биометрической аутентификации на основе анализа рукописного почерка |
ru_RU |
dc.type |
ECM programs, databases, integrated circuit topographies |
ru_RU |
|