KFU. Card publication. База данных. Свидетельство о государственной регистрации № 2020620980 от 16.06.2020. Штаммы микроорганизмов, устойчивых к высоким дозам ионизирующего излучения. Заявка № 2020620817 от 27.05.2020.

- RUS
- 中文
- ES

БАЗА ДАННЫХ. СВИДЕТЕЛЬСТВО О ГОСУДАРСТВЕННОЙ РЕГИСТРАЦИИ № 2020620980 ОТ 16.06.2020. ШТАММЫ МИКРООРГАНИЗМОВ, УСТОЙЧИВЫХ К ВЫСОКИМ ДОЗАМ ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ. ЗАЯВКА № 2020620817 ОТ 27.05.2020.

Form of presentation

ECM programs, databases, integrated circuit topographies

Year of publication

2022

Язык

русский

Authors, employees of KFU

Kadirov Azat Gilmkhanovich, author

Ryabova Alina Valerevna, author

Shagimardanova Elena Ilyasovna, author

Bibliographic description in the original language

Baza dannykh. Svidetelstvo o gosudarstvennoy registracii № 2020620980 ot 16.06.2020. Shtammy mikroorganizmov, ustoychivykh k vysokim dozam ioniziruyushhego izlucheniya. Zayavka № 2020620817 ot 27.05.2020.

Please use this ID to quote from or refer to the card

https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=267736&p_lang=2

Resource files

File name	Size (MB)	Format
BD_20206200980.pdf	0,57	pdf	show / download

Full metadata record

Field DC	Value	Language
dc.contributor.author	Kadirov Azat Gilmkhanovich	ru_RU
dc.contributor.author	Ryabova Alina Valerevna	ru_RU
dc.contributor.author	Shagimardanova Elena Ilyasovna	ru_RU
dc.date.accessioned	2022-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.available	2022-01-01T00:00:00Z	ru_RU
dc.date.issued	2022	ru_RU
dc.identifier.citation	База данных. Свидетельство о государственной регистрации № 2020620980 от 16.06.2020. Штаммы микроорганизмов, устойчивых к высоким дозам ионизирующего излучения. Заявка № 2020620817 от 27.05.2020.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=267736&p_lang=2	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.title	База данных. Свидетельство о государственной регистрации № 2020620980 от 16.06.2020. Штаммы микроорганизмов, устойчивых к высоким дозам ионизирующего излучения. Заявка № 2020620817 от 27.05.2020.	ru_RU
dc.type	ECM programs, databases, integrated circuit topographies	ru_RU