Form of presentation | ECM programs, databases, integrated circuit topographies |
Year of publication | 2012 |
|
Demin Sergey Anatolevich, author
Nefedev Yuriy Anatolevich, author
Panishhev Oleg Yurevich, author
|
Bibliographic description in the original language |
Svidetelstvo o gosudarstvennoy registracii programmy dlya EVM № 2012618860 "Programmnyy analiticheskiy kompleks dlya mnogomernykh posledovatelnostey izmereniy parametrov slozhnykh obektov raznoobraznoy prirody", Nefedev Yu.A., Dyomin S.A., Panishhev O.Yu. ot 28.09.2012 (Pravoobladatel KFU) |
Keywords |
Программный комплекс, анализ временных сигналов, обработка изображений, корреляционный анализ, формализм функций памяти, фликкер-шумовая спектроскопия, сложные системы |
Please use this ID to quote from or refer to the card |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=95597&p_lang=2 |
Full metadata record |
Field DC |
Value |
Language |
dc.contributor.author |
Demin Sergey Anatolevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Nefedev Yuriy Anatolevich |
ru_RU |
dc.contributor.author |
Panishhev Oleg Yurevich |
ru_RU |
dc.date.accessioned |
2012-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.available |
2012-01-01T00:00:00Z |
ru_RU |
dc.date.issued |
2012 |
ru_RU |
dc.identifier.citation |
Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2012618860 "Программный аналитический комплекс для многомерных последовательностей измерений параметров сложных объектов разнообразной природы", Нефедьев Ю.А., Дёмин С.А., Панищев О.Ю. от 28.09.2012 (Правообладатель КФУ) |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
https://repository.kpfu.ru/eng/?p_id=95597&p_lang=2 |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.subject |
Программный комплекс |
ru_RU |
dc.subject |
анализ временных сигналов |
ru_RU |
dc.subject |
обработка изображений |
ru_RU |
dc.subject |
корреляционный анализ |
ru_RU |
dc.subject |
формализм функций памяти |
ru_RU |
dc.subject |
фликкер-шумовая спектроскопия |
ru_RU |
dc.subject |
сложные системы |
ru_RU |
dc.title |
Программный аналитический комплекс для многомерных последовательностей измерений параметров сложных объектов разнообразной природы |
ru_RU |
dc.type |
ECM programs, databases, integrated circuit topographies |
ru_RU |
|